随着高频率(GHz)信号在可靠的老式FR-4板上越来越普遍，作为PCB制造步骤，测试线路质量(特别是其插入损耗(SDD21))变得越来越重要。问题是为了做到这一点，您必须探测跟踪的两端。在实验室中不是那么难，但是大容量的测试人员并不是为此而建立的——他们希望在一个地方进行探测。

两年前，在DesignCon上，英特尔提出了一种新的方法，通过在同一端点的两个点上进行时域测量来确定插入损耗。他们称之为“单端TDR到差分插入损耗”(SET2DIL)。

这里有一个简短的术语注释:在行业中，关于这些测试点的名称似乎不一致。有些人把它们称为两个“终端”，相当于一个“端口”。罗德和施瓦茨(也许还有其他人)似乎把“终端”和“端口”等同起来，所以我们在这里谈论的系统类型都是四终端系统，但也可能是两端口或四端口系统，这取决于您对“端口”的定义。因此，这里要解决的问题是通过仅测量两个终端来测试四端系统的能力。关键的是，这两个端点都在构成差分对的两条迹线的同一端。

在今年的设计大会上，SET2DIL似乎出现了，至少以软件的形式出现。罗德和施瓦茨展示了他们的矢量网络分析仪(VNA)可以进行时域(反射测量或透射测量)测量，然后将它们输入一台运行SET2DIL算法的计算机，以计算差分插入损失。他们说他们正在努力将算法集成到VNA本身。

极地仪器公司在2012年发布的地图集中似乎也支持SET2DIL。

更多关于罗德和施瓦茨的解决方案的信息可以在他们的释放．

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